礦物晶粒結(jié)構(gòu)磨制晶粒結(jié)構(gòu)分析圖像顯微鏡
晶粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)研究方法
由于礦物集合體中顆粒排列得非常緊密，或因在磨制光片時(shí)，晶
粒間的界限常被非晶質(zhì)薄膜所復(fù)蓋、填塞，故所見的礦物往往是相連
成一片，時(shí)常掩蓋了礦石內(nèi)部(包括晶粒內(nèi)部)結(jié)構(gòu)。因此，在反射光
下常很難直接觀察到，所以，通常采用下列方法顯示礦物晶粒內(nèi)部結(jié)
構(gòu)，以利觀察。
1．偏光法
(正交或不完全正交)對(duì)于非均質(zhì)性的金屬礦物，可在礦相顯微鏡
下，以垂直入射正交(或不完全正交)偏光法，觀察礦物晶粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)
。如輝銻礦，毒砂，銅藍(lán)、磁黃鐵礦、紅砷鎳礦等非均質(zhì)性礦物，用
此法觀察，可得到較好的效果。但該法通常只能顯示礦物結(jié)晶顆粒輪
廓界限及其內(nèi)部的雙晶、晶帶等，而不能顯示裂理、解理等o
2．結(jié)構(gòu)浸蝕法
對(duì)于那些均質(zhì)性的或弱非均質(zhì)性的金屬礦物，可利用結(jié)構(gòu)化學(xué)浸蝕
法來顯示其內(nèi)部結(jié)構(gòu)。結(jié)構(gòu)浸蝕法和浸蝕鑒定的操作與原理相似，即
在光片上用一定濃度的化學(xué)試劑加以浸蝕，其浸蝕的時(shí)間、化學(xué)試劑
的種類和濃度，以能最快和最清晰地顯示其內(nèi)部結(jié)構(gòu)為宜。至于浸蝕
的面積，可根據(jù)需要而定，通常比浸蝕鑒定的面積要大。浸蝕的時(shí)間
，一般為幾至幾十秒鐘不等，甚至可達(dá)幾十分鐘。由于光面上的礦物
晶粒因其各自方向和截面不同，與試劑反應(yīng)的速度和程度也不相等，
故各晶粒經(jīng)浸蝕后顯示出明暗和深淺程度不同的浸蝕面。因而礦物晶
粒界限和裂理、解理、環(huán)帶、雙晶等內(nèi)部結(jié)構(gòu)，在礦相顯微鏡下均可
被觀察到。其常用的方法如下：
(1)液體試劑浸蝕法(液法) 用滴管吸取試劑滴在光面上進(jìn)行局部
浸蝕，經(jīng)一定時(shí)間后，用濾紙吸干，置于顯微鏡下觀察。若有沉淀物
產(chǎn)生時(shí)，可用清水沖洗，揩干后再進(jìn)行觀察。
(2)氣體試劑浸蝕法(氣法) 把礦石光片的磨光面置于盛有化學(xué)試
劑的玻璃瓶(皿)，n上方，但不接觸瓶(皿)口，利用試劑的蒸汽來浸蝕
礦石磨光面，經(jīng)一定時(shí)間后，再置于顯微鏡下觀察之。
